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  • 20259-27
    奧林巴斯金相顯微鏡操作指南,從樣品觀察到精準分析

    奧林巴斯金相顯微鏡是材料科學、冶金工業和質檢領域進行顯微組織觀察與分析的高精度光學儀器。規范的操作流程不僅能獲得清晰、準確的顯微圖像,更是保護昂貴設備、確保研究成果可靠性的關鍵。掌握其使用方法是每一位金相工作者的必要技能。一、使用前準備:光路校準與樣品安裝1.柯勒照明調整開啟光源后,切勿直接觀察。首先進行柯勒照明調整,這是獲得均勻照明的核心步驟:①放置樣品,聚焦至清晰。②縮小視場光闌,在視野中看到邊緣清晰的多邊形。③調節聚光鏡升降旋鈕,使多邊形邊緣達到最銳利。④調節聚光鏡對中...

  • 20259-21
    徠卡顯微鏡的三大應用領域解析

    在科學研究與工業生產的精密領域中,徠卡顯微鏡憑借其杰出的光學性能與技術創新,成為探索微觀世界的關鍵工具。從生命奧秘的解密到工業質量的把控,再到醫學診療的革新,徠卡顯微鏡通過三大核心應用場景,展現了其在儀器領域的不可替代性。一、生命科學:解碼細胞與分子的微觀密碼徠卡顯微鏡在生命科學領域聚焦于細胞生物學與組織學的深度研究。通過共聚焦顯微鏡、激光顯微切割等高級技術,研究人員可實現對活細胞動態過程的高時空分辨率觀測,甚至解析亞細胞結構的精細構型。其搭載的FusionOptics融合光...

  • 20259-4
    白光干涉輪廓儀解鎖材料多元表面形貌

    在精密制造與材料科學的廣闊領域中,表面形貌的精確測量是確保產品質量、優化性能及推動技術創新的關鍵環節。白光干涉輪廓儀,作為非接觸式三維表面形貌測量的先鋒技術,以其杰出的適應性和高精度,成為了探索微觀世界表面特征的強大工具。它不僅能夠跨越材質界限,從金屬、陶瓷到高分子材料,無一不展現出其測量的廣泛兼容性,更能在復雜結構與多變的表面粗糙度、波度面前游刃有余,幾乎涵蓋了所有類型的表面形貌測量需求。白光干涉輪廓儀的核心優勢在于其利用白光干涉原理,通過分析干涉條紋的變化,實現對表面微觀...

  • 20258-27
    徠卡金相顯微鏡點檢維護全攻略

    在高級制造與材料科研領域,徠卡金相顯微鏡作為觀測材料微觀組織的“核心設備”,其光學性能的穩定性直接影響檢測結果的準確性。然而,環境灰塵、機械振動、光源老化等潛在風險,可能悄然導致圖像模糊、色差偏移甚至硬件故障。本文將從日常點檢、深度維護、故障預判三個維度,系統解析徠卡金相顯微鏡的科學養護方法,助力用戶以“預防性維護”替代“事后維修”,較大化設備生命周期價值。一、日常點檢:10分鐘/日的“光學體檢”,防患于未然每日使用前后進行快速點檢,可及時發現90%以上的潛在問題:1.光學系...

  • 20258-21
    徠卡偏光顯微鏡熒光模塊怎么拍礦物的

    在礦物學研究中,許多關鍵信息隱藏在傳統光學顯微鏡無法觸及的維度——稀土元素的微量分布、晶格缺陷的發光特征、流體包裹體的化學成分……這些“隱形線索”往往需要借助熒光信號才能顯現。徠卡偏光顯微鏡的熒光模塊通過精準激發礦物特定發光波段,結合偏振光對晶格取向的解析能力,為地質學家提供了一套“光色雙修”的礦物分析利器,讓深藏于巖石中的微觀秘密無所遁形。一、熒光激發:從“暗場”到“明場”的礦物發光革命傳統偏光顯微鏡依賴透射光觀察礦物,而熒光模塊通過高能光源(如汞燈、LED或激光)與窄帶濾...

  • 20257-31
    央視鏡頭揭秘:澤攸科技這項技術,讓人類看清雪花的 “童年”

    你有沒有好奇過,為什么飄落的雪花總帶著精致的六角紋路?為什么冰面明明是堅硬的固體,卻能讓運動員在上面自由滑行?在央視紀錄片《科學之美》里,這些藏在冰雪中的奧秘,被一個“微觀神器”一一揭開——它就是澤攸科技的原位冷凍樣品桿。零下170℃的“抓拍”:雪花誕生的第一瞬間紀錄片中,中國科學院物理研究所的科學家們做了一個大膽的實驗:在零下170℃的低溫環境中,讓氣態的水瞬間凝結成冰晶。這個過程快得像閃電,稍有偏差就會錯過雪花形成的關鍵瞬間。這時候,澤攸科技的原位冷凍樣品桿成了“神助攻”...

  • 20257-29
    徠卡偏光顯微鏡空白部分顯示黑色的操作指南

    在地質、材料科學及高分子研究中,徠卡偏光顯微鏡通過偏振光技術可清晰呈現各向異性物質的雙折射特性。然而,若空白區域未顯示為純黑色,可能干擾晶體結構或應力場的精確分析。以下從硬件調試與軟件優化兩個維度,系統闡述實現空白部分純黑顯示的操作方法。一、硬件調試:構建全消光光路系統1.偏振片正交校正將黑云母薄片置于載物臺中央,使用10×物鏡聚焦。旋轉檢偏鏡至視域全部消光(全黑狀態),此時上下偏振片振動方向正交。若存在殘余光強,需松開檢偏鏡固定螺絲,微調其角度至視域最暗,確保偏振片正交誤差...

  • 20257-25
    澤攸微納探針臺納米尺度電學表征的“精密標尺”

    在半導體制造、納米材料研發及微電子器件測試領域,對樣品與測試設備進行納米級電學表征是突破技術瓶頸的關鍵。北京儀光推出的微納探針臺憑借其亞納米級定位精度與多維度功能集成,成為推動微納電學研究邁向新高度的核心工具。一、三維空間納米級定位:突破物理極限的操控藝術澤攸微納探針臺采用壓電陶瓷驅動技術,通過三軸獨立運動臺實現X/Y/Z方向±10mm的行程控制,運動分辨率達0.5nm。其核心創新在于柔性鉸鏈導向系統與零間隙傳動設計,確保在宏觀行程范圍內仍能保持亞納米級定位精度...

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